Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники : периодический научный журнал. - 2015. - № 1 (35)

Содержание :

• ЭЛЕКТРОНИКА, ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА, РАДИОТЕХНИКА И СВЯЗЬ.
• Фисанов, В. В. Электромагнитные волны в изотропной метакиральной среде.
• Захаров, Ф. Н. и др. Оценка величины зенитной задержки радионавигационных сигналов в юго-восточной части Охотского моря по данным метеоизмерений вблизи навигационного приёмника.
• Кологривов, В. А. Модельное исследование многоантенной технологии.
• Бомбизов, А. А. Критерий выбора оконной функции для задач частотно-временного анализа электромагнитного излучения горных пород.
• Быков, Е. В. и др. Результаты исследования электрического сопротивления антистатических трубок.
• Иванов, А. С. и др. Диагностика линзовых антенн с использованием сканера ближнего поля.
• Мелихов, С. В. Уравнение дуплексной радиосвязи сотовой системы.
• Сучкова, Л. И. и др. Исследование долговременной стабильности параметров термодатчиков DS18B20.
• Добуш, И. М. и др. Разработка МШУ диапазона 1–2 ГГц с использованием программы структурного синтеза СВЧ-транзисторных усилителей на основе генетического алгоритма.
• Торхов, Н. А. и др. Мощные AlGaN/GaN HEMT X- и Kᵤ-диапазонов.
• Ильин, А. А. Динамика спектров лазерной плазмы, генерируемой на поверхности жидкости наносекундным лазерным излучением.
• Кондрашов, В. А. и др. Наноразмерные мемристорные структуры на основе хлорида меди с подслоем графена.
• Давыдов, В. Н., Новиков, Д. А. Измерительные методики и автоматизированный комплекс для исследования приборов опто- и наноэлектроники.
• Савин, А. А. Статистический анализ алгоритмов верификации векторных анализаторов цепей для зондовых измерений.
• Дышлюк, А. В. и др. Сверхчувствительный плазмон-поляритонный рефрактометр на основе нерегулярного металл-диэлектрического световода.
• УПРАВЛЕНИЕ, ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА И ИНФОРМАТИКА.
• Катаев, М. Ю. и др. Интернет-информационная система накопления, обработки и анализа спутниковых данных MODIS.
• Менщиков, А. А., Шниперов, А. Н. Метод скрытого встраивания информации в векторные изображения.
• Дмитриев, В. М. и др. Методика сопряжения системы виртуальных инструментов и приборов с универсальным контроллером X-Mega.
• Милихин, М. М. и др. Комбинированный метод визуализации картографических данных веб-ориентированной геоинформационной системы.
• Басов, О. О. и др. Методика выбора аппаратно-программных средств для построения абонентских терминалов полимодальной инфокоммуникационной системы.
• Гриценко, Ю. Б. и др. Особенности перехода предприятия на программно-целевой метод управления.
• Сенченко, П. В. и др. Веб-ориентированная автоматизированная информационная система поддержки малого и среднего бизнеса Томской области.
• Михальков, Ф. Д. Применение технологии дополненной реальности в пользовательских интерфейсах.
• Перова, Ю. П. Технологии тестирования в дистанционном обучении.
• Криволапова, Л. И. и др. Фрактальная размерность – оценочная мера качества поверхности металлопроката.
• Щербинин, С. В. Планирование траекторий электромехатронных манипуляторов.
• ЭЛЕКТРОТЕХНИКА.
• Гончаров, В. И., Онуфриев, В. А. Идентификация двухзвенного манипулятора потолочного типа.
• СООБЩЕНИЯ.
• Горлова, Т. В., Обрусник, В. П. Электропривод, его состояние и перспективы.
• Требования к подготовке рукописей статей, представляемых для публикации в журнале «Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники».
• ИЛЛЮСТРАЦИИ:
• Функциональная модель многоантенной системы передачи данных.
• Блок-схема сканера ближнего поля.
• Внешний вид плоского сканера.
• Макет линзы Люнеберга, амплитудное и фазовое распределения в её раскрыве ; Макет антенной решетки линзовых излучателей, амплитудное и фазовое распределения в её раскрыве.
• Фотографии экспериментальных образцов малошумящих усилителей (МШУ).
• Электронно-микроскопическое изображение кристалла AlGaN/GaN HEMT.
• Изображение во вторичных электронах среза структуры Cu/SiO₂ ; Схематичное изображение процесса формирования графена под поликристаллической плёнкой меди.
• Блочная структура автоматизированного комплекса ; Внешний вид автоматизированного комплекса.
• Типовые поверхностные дефекты металлопроката и примеры наследования дефектов.
• Блок-схема способа оценивания качества поверхности металлопроката.
• Устройство для идентификации и синтеза регуляторов.
• Схема манипулятора и принятые обозначения.